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| 高低溫試驗箱分別在做高溫或低溫試驗的時候的區(qū)別 |
目的：檢驗系統(tǒng)及系統(tǒng)內(nèi)各設(shè)備在高溫環(huán)境下正常工作的能力。 試驗設(shè)備：試驗設(shè)備應(yīng)符合GB16838的規(guī)定。
實驗步驟：
1. 將試樣在正常大氣下放置2h~4h后放入高/低溫試驗箱中，接通電源，使其處于主電工作狀態(tài)。
2. 高溫：以不大于1℃/min的平均升溫速率升到55℃±2℃保持16h 。 低溫：以不大于1℃/min的平均升溫速率升到0℃±1℃保持24h 。
3. 按本標(biāo)準(zhǔn)7.2的步驟進行實驗。
試驗結(jié)果：試樣在高溫環(huán)境下的性能應(yīng)滿足6.3.6.12的要求。
其實這二者沒什么很大的區(qū)別，唯一的就是在溫度上具有了一個高溫，一個低溫的要求從而出現(xiàn)了不同，您可以作為參考。 |
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